Компьютерное зрение
Система для анализа микроскопических снимков полупроводниковых кристаллов: обработка изображений, обнаружение и подсчёт дефектов.
Контакты
Открыт к предложениям о работе и проектам.
Система для анализа микроскопических снимков полупроводниковых кристаллов: обработка изображений, обнаружение и подсчёт дефектов.
Открыт к предложениям о работе и проектам.